DOI:
矿床地质:2010,Vol.>>Issue(Z12):823-824

电子探针与微区X 射线衍射联合应用研究——以羟硅铍石的鉴定为例
核工业北京地质研究院
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葛祥坤,范光,夏晨光,艾永亮.2010.电子探针与微区X 射线衍射联合应用研究——以羟硅铍石的鉴定为例[J].矿床地质,29(Z12):823~824
.2010.[J].Mineral Deposits29(Z12):823~824
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